삼성전자는 지난 23일 삼성전자 서초사옥에서 갤노트7 소손 원인 발표 자리를 열고 이 같이 밝혔다.
이날 고동진 삼성전자 무선사업부 사장은 “대규모의 재현 테스트 설비를 구축하여 사용자 조건과 유사한 환경 하에서 충‧방전 테스트를 통해 소손 현상을 재현했으며, 이를 통해 정확한 분석을 진행했다”고 말했다.
이에 따르면 삼성전자는 제품 20만대, 배터리 3만개로 진행한 대규모 충‧방전 시험에서 소손 현상을 재현했다. 그 결과 노트 7에 채용된 A배터리와 B배터리에서 각기 다른 원인으로 소손 현상이 일어나는 것을 확인됐다.
삼성전자가 조사 의뢰를 맡긴 UL 등 국제 전문기관도 같은 결과를 내놓은 것으로 전해졌다.
UL에 따르면 A배터리의 경우 배터리 위쪽 코너에 눌림 현상과 얇은 분리막으로 배터리 내부 단락을 발생시켜 소손을 유발했다고 분석했고, B배터리에 대해서는 비정상 융착돌기, 절연테이프 미부착, 얇은 분리막의 조합이 배터리 내부에서 단락을 발생시켜 폭발을 야기한 것으로 파악했다.